德國JENA高精度平面光柵尺
簡介
1、二維線性測量光柵尺 2、光柵周期20 μm，玻璃盤 3、測量范圍可達105 x 89 mm（更大可以定制） 4、測量角度范圍*大可達 ±10’ 5、細分*大為×100，細分電路在15pin Sub-D接頭內 6、讀頭尺寸精巧 7、多種安裝方式 8、高分辨率、高精度 9、高細分精度，信號可自動調整 10、每個測量方向一個原點信號
技術參數(shù)
1、讀頭重量：17g （不含線） 2、可選分辨率：0.05μm、0.1μm、0.2μm、0.5μm、1μm、5μm 3、速度參數(shù)： 無細分電路－－max. 600 m/min --->10 m/s 細分數(shù)x50－－max. 96 m/min --->1.6 m/s 4、測量范圍： 長度－－105 x 89 mm（更大可以定制） 角度－－±10’ 5、測量標準： 材質－－玻璃，厚度1.1mm
